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AxoStep?
穆勒矩陣成像旋光儀
AxoStep 同時(shí)測量圖像中每個(gè)位置的所有可能的偏振特性。根據(jù)使用的顯微鏡物鏡,可以測試小至幾微米的特征。概述
AxoStep 是業(yè)界首款 Mueller Matrix 成像顯微鏡。一種突破性的偏振測試儀器,基于 AxoScan 的行業(yè)中名列前茅的原理,能夠在短短 14 秒內(nèi)測量圖像中每個(gè)像素的所有可能的偏振特性(完整的穆勒矩陣)。
與典型的延遲或雙折射成像系統(tǒng)不同,AxoStep 同時(shí)測量所有透射率、偏振器、延遲器和去偏振特性。圓偏振器、橢圓延遲器和光學(xué)旋轉(zhuǎn)不會導(dǎo)致系統(tǒng)進(jìn)行不正確的測量。
AxoStep Mueller Matrix 成像顯微鏡系統(tǒng)可以執(zhí)行偏振計(jì)量,橫向分辨率小于 1 um,甚至比世界上極先進(jìn)的微點(diǎn)非成像系統(tǒng)小 50 倍。這種級別的分辨率使我們能夠測量以前無法表征的樣品的光學(xué)特性,例如單個(gè) UHD 多域 LCD 像素子域中的預(yù)傾斜。
Axostep 系統(tǒng)使用各種光學(xué)附件,允許用戶實(shí)時(shí)查看樣品的顯微圖像,當(dāng)與 Axometrics 的突出的分析屬性結(jié)合使用時(shí),測量 LCD 單元間隙和預(yù)傾斜等屬性以及薄膜厚度。與 AxoScan 一樣,AxoStep 還包括各種可用的桌面、大型和生產(chǎn)測量夾具。
由于 AxoStep 可以實(shí)時(shí)查看樣本,我們可以使用相應(yīng)模式識別軟件自動查找和測量樣本上的特定特征。
應(yīng)用
使用 AxoStep 成像系統(tǒng)進(jìn)一步擴(kuò)展了 Mueller 矩陣提供的獨(dú)特測量功能。成像旋光儀的使用開辟了許多使用非成像系統(tǒng)無法實(shí)現(xiàn)的附加應(yīng)用。例如
像素間 LCD 測量
AxoStep 打開了測量 LCD 面板中單個(gè)像素內(nèi)部光學(xué)特性的大門。沒有其他測量系統(tǒng)可以與這種獨(dú)特的能力相匹敵。這種能力包括:
- LCD Panels (cell gap, pre-tilt, alignment direction, pre-tilt)
- 單個(gè)像素內(nèi)的變化
- 多域像素設(shè)計(jì)的預(yù)傾斜測量
- 激光修復(fù)造成的損壞
- LCD 面板邊緣、角落和“缺口”附近像素的單元間隙變化
圖案陣列
- 應(yīng)用于 CCD / CMOS 陣列的圖案化偏振器和延遲器
- 幾何相位透鏡和渦旋延遲器
玻璃和塑料微光學(xué)
AxoStep 可用于詳細(xì)、周至的表征小型光學(xué)器件的表面特性和內(nèi)部應(yīng)力。這在測試手機(jī)相機(jī)和增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)投影儀中使用的鏡頭時(shí)特別有用。
3D顯示組件
AxoStep 系統(tǒng)特別適合對 3D 顯示器中使用的光學(xué)元件進(jìn)行詳細(xì)測量,包括:
- 自動立體透鏡陣列
- 圖案化波片和偏光片
- 薄膜圖案化延遲器 (FPR) 和 FPR 偏振器
定量偏光顯微鏡
偏光顯微鏡被廣泛用于幫助可視化顯微樣品中的透明物體。然而,在某些情況下,需要進(jìn)行定量測量才能準(zhǔn)確確定樣品的關(guān)鍵參數(shù)。AxoStep 同時(shí)高精度測量樣品的所有偏振特性:
- 延遲(雙折射)和方向
- 光學(xué)活性(圓形延遲)
- 線性二色性(線性衰減)
- 圓二色性(圓二色性)
- 去極化
naitokikai-重慶內(nèi)藤