產(chǎn)品名稱：美國AXOmetrics穆勒矩陣旋光儀偏振測試naitokikai

概述

AxoStep 是業(yè)界首款 Mueller Matrix 成像顯微鏡。一種突破性的偏振測試儀器，基于 AxoScan 的行業(yè)中的原理，能夠在短短 14 秒內(nèi)測量圖像中每個像素的所有可能的偏振特性（完整的穆勒矩陣）。

與典型的延遲或雙折射成像系統(tǒng)不同，AxoStep 同時測量所有透射率、偏振器、延遲器和去偏振特性。圓偏振器、橢圓延遲器和光學旋轉不會導致系統(tǒng)進行不正確的測量。

AxoStep Mueller Matrix 成像顯微鏡系統(tǒng)可以執(zhí)行偏振計量，橫向分辨率小于 1 um，甚至比*先進的微點非成像系統(tǒng)小 50 倍。這種級別的分辨率使我們能夠測量以前無法表征的樣品的光學特性，例如單個 UHD 多域 LCD 像素子域中的預傾斜。

Axostep 系統(tǒng)使用各種光學附件，允許用戶實時查看樣品的顯微圖像，當與 Axometrics 的**分析屬性結合使用時，測量 LCD 單元間隙和預傾斜等屬性以及薄膜厚度。與 AxoScan 一樣，AxoStep 還包括各種可用的桌面、大型和生產(chǎn)測量夾具。

由于 AxoStep 可以實時查看樣本，我們可以使用**模式識別軟件自動查找和測量樣本上的特定特征。

應用

使用 AxoStep 成像系統(tǒng)進一步擴展了 Mueller 矩陣提供的獨特測量功能。成像旋光儀的使用開辟了許多使用非成像系統(tǒng)無法實現(xiàn)的附加應用。例如

像素間 LCD 測量

AxoStep 打開了測量 LCD 面板中單個像素內(nèi)部光學特性的大門。沒有其他測量系統(tǒng)可以與這種獨特的能力相匹敵。這種能力包括：

• LCD Panels (cell gap, pre-tilt, alignment direction, pre-tilt)
• 單個像素內(nèi)的變化
• 多域像素設計的預傾斜測量 
• 激光修復造成的損壞
• LCD 面板邊緣、角落和“缺口”附近像素的單元間隙變化

圖案陣列

• 應用于 CCD / CMOS 陣列的圖案化偏振器和延遲器
• 幾何相位透鏡和渦旋延遲器

玻璃和塑料微光學

AxoStep 可用于**表征小型光學器件的表面特性和內(nèi)部應力。這在測試手機相機和增強現(xiàn)實投影儀中使用的鏡頭時特別有用。

3D顯示組件 

AxoStep 系統(tǒng)特別適合對 3D 顯示器中使用的光學元件進行詳細測量，包括：

• 自動立體透鏡陣列
• 圖案化波片和偏光片
• 薄膜圖案化延遲器 (FPR) 和 FPR 偏振器

定量偏光顯微鏡

偏光顯微鏡被廣泛用于幫助可視化顯微樣品中的透明物體。然而，在某些情況下，需要進行定量測量才能準確確定樣品的關鍵參數(shù)。AxoStep 同時高精度測量樣品的所有偏振特性：

• 延遲（雙折射）和方向
• 光學活性（圓形延遲）
• 線性二色性（線性衰減）
• 圓二色性（圓二色性）
• 去極化

規(guī)格