AxoScan?

穆勒矩陣旋光儀

AxoScan 在 30 毫秒內(nèi)同時測量樣品所有可能的偏振特性。范圍廣泛的特定應用分析軟件為幾乎所有與偏振相關的設備或行業(yè)提供易于理解的數(shù)據(jù)。

概述

AxoScan 是行業(yè)**的樣品偏振特性測量系統(tǒng)。憑借其****的速度、精度和準確度，AxoScan 在全球范圍內(nèi)被偏光膜、延遲膜和液晶顯示器制造商以及這些產(chǎn)品的許多*終用戶所采用。

AxoScan 測量 所有可能的偏振特性 （完整的 Mueller 矩陣）并在僅30 毫秒內(nèi)報告樣品的所有關鍵偏振參數(shù)（偏振器特性、延遲器特性、去偏振特性）  。

測量是在一個位置進行的，通常是在直徑為 1.5 毫米或 3 毫米的光束中。如果需要測量非常小的特征，請考慮使用 AxoStep 成像旋光儀。

“穆勒矩陣”的優(yōu)勢

與僅測量特定偏振參數(shù)子集的“部分”或“不完整”旋光儀不同，AxoScan 和 AxoStep 均測量完整的 Mueller 矩陣。Mueller 矩陣的 16 個元素包含樣品所有可能的偏振特性。這在您的真實樣本不符合測量系統(tǒng)做出的假設的情況下非常重要。
例如，如果任何層之間沒有完全對齊，則測量堆疊的延遲器層將產(chǎn)生“橢圓延遲”。設計用于測量“線性延遲”或“雙折射”的系統(tǒng)將無法看到這種未對準的影響，并會給出錯誤的結果。但是穆勒矩陣是騙不了的，
我們易于使用的軟件會自動將穆勒矩陣轉換為有意義的透射率、偏振器特性（衰減和偏振）、延遲和去偏振參數(shù)。Axometrics 還為眾多行業(yè)提供范圍廣泛的專用軟件。

OPMF - 平面外測量夾具

OPMF-1 在世界各地的研發(fā)和 QC 實驗室中使用，是 AxoScan *常用的安裝夾具。OPMF 自動傾斜和旋轉樣品以測量作為視場函數(shù)的偏振特性。在多個入射角下進行測量對于許多應用來說至關重要：

• 用于視野 (FOV) 分析的極角和方位角圖
• 行業(yè)標準面外延遲參數(shù)（R0、Rth 和 Beta）
• 透射樣品的相對 3D 折射率橢圓
• 液晶 (LC) 顯示器和薄膜的預傾斜測量
• 垂直排列 LC 的池間隙測量

OPMF-1傾角（極角）范圍為-55°至+55°，旋轉角（方位角）連續(xù)0°至360°

OPMF-2 將*大傾斜角擴展到 75°。這種擴展的傾斜范圍通常在視野研究的研發(fā)應用中很有用。

XY200 - 電動XY掃描臺

XY200 夾具自動執(zhí)行*大 200 平方毫米樣品的 XY 圖，并包括用于分析測量偏振特性圖的軟件。隨附的 XYViewer 軟件具有以下功能：

• 統(tǒng)計分析樣本的分布
• 截面圖
• 屏蔽超出范圍的像素
• 數(shù)據(jù)導出到電子表格
• 用于質(zhì)量控制的通過/不通過應用程序的分箱顏色表的用戶設置

VRTF - 傳輸和反射夾具

VRTF-1 可以在傳輸和反射模式之間自動重新配置，從而實現(xiàn)非常廣泛的應用。反射的傾角可以從 10° 到 90°，透射的傾角可以從 -55° 到 55°。MSRS 選項提供樣品的完整 360° 旋轉，可選的 XY50 載物臺允許區(qū)域的 XY 圖*大為 50 mm x 50 mm。

VRTF 是我們*靈活的夾具，可廣泛用于偏光測量和橢圓偏光測量：

• 用于視野 (FOV) 分析的極角和方位角圖
• 行業(yè)標準面外延遲參數(shù)（R0、Rth 和 Beta）
• 透射樣品的相對 3D 折射率橢圓
• 液晶 (LC) 顯示器和薄膜的預傾斜測量
• 垂直排列 LC 的池間隙測量
• XY 地圖和橫截面線掃描高達 50 毫米的透射或反射
• 折射率測量
• 薄膜厚度測量
• LCOS 和反射式顯示器測試

FSVM - 獨立式垂直安裝

FSVM 是一種簡單的安裝夾具，用于測量垂直入射傳輸中的樣品。該夾具包括一個可調(diào)節(jié)的參考邊緣，用于重復設置樣品方向。

OBHM  - 光學工作臺水平安裝座

光學工作臺水平安裝架適用于希望將 AxoScan 安裝在光學工作臺上的研究人員。這為許多研發(fā)應用提供了*大的靈活性。

應用

由于 Mueller 矩陣包含樣品所有可能的偏振特性，因此 AxoScan 應用程序太多無法一一列舉。下面的列表重點介紹了一些*常見的應用程序，但請務必訪問我們的應用程序頁面以獲取更多信息。
如果您沒有看到您的應用列出，請隨時聯(lián)系我們討論您的測量要求。如果測量涉及極化，我們可能已經(jīng)幫助某人進行了類似的測量。
偏光片特性
準確測量偏光片的偏光軸角和偏光效率（衰減幅度）。確定輸出狀態(tài)是線性、圓形還是介于兩者之間的某種橢圓狀態(tài)。還要判斷輸入輸出狀態(tài)是否相同。在一些應用中，延遲膜被層壓到偏振膜上以進行視場補償或用于制造圓偏振器。我們的多層分析軟件可用于確定各個層的屬性。
緩凝劑性能
準確測量減速器快軸角度和減速幅度。還要確定傳播*快的狀態(tài)是線性、圓形（旋光）還是橢圓形。測量延遲作為傾斜角的函數(shù)可以計算面外延遲 (Rth) 和指示線傾斜角 (β)，并表征 c 板。
液晶參數(shù)測試
同時測量液晶任意模式的盒隙、上下配向方向、扭轉角、上下預傾角。測量可應用于測試電池、商業(yè)面板或聚合薄膜。
廣義橢圓偏光
測量反射樣品可為計算薄膜的折射率和厚度提供必要的數(shù)據(jù)（ψ 和 Δ）。因為 AxoScan 測量整個 Mueller 矩陣，所以測量不限于各向同性薄膜。可以毫無困難地測量單軸和雙軸各向異性薄膜和基材。
應力誘導雙折射
AxoScan 可以準確測量低于 0.1 nm 的延遲水平。測量樣品的延遲和快軸方向的 XY 圖揭示了應力誘導的雙折射模式。AxoScan 廣泛用于測試注塑塑料光學器件和厚玻璃光學器件以揭示這種現(xiàn)象。
生物樣本
對齊的膠原纖維會產(chǎn)生顯著水平的線性延遲。AxoScan 用于選擇用于制造心臟瓣膜的組織，以確保纖維對齊與瓣膜幾何形狀正確對齊。
反射裝置
VRTF 夾具允許在透射或反射中測試樣品。AxoScan 廣泛用于測試反射器件，例如 LCOS 成像器、半透半反 LCD 面板、膽甾型濾光片和光回收膜。
偏振光線追蹤
Mueller 矩陣的一大優(yōu)勢是它能夠用于偏振光線追蹤模擬。使用復雜樣本的測量 Mueller 矩陣，可以預測該樣本將如何改變?nèi)魏屋斎肫駪B(tài)。例如，我們的軟件可以預測樣品放置在任意兩個線性、橢圓或圓偏振器之間時的樣子。我們的測量數(shù)據(jù)文件可以導入到多個第三方鏡頭設計、偏振光線追蹤和液晶設計軟件包中。

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