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AxoScan?
穆勒矩陣旋光儀
AxoScan 在 30 毫秒內(nèi)同時測量樣品所有可能的偏振特性。范圍廣泛的特定應(yīng)用分析軟件為幾乎所有與偏振相關(guān)的設(shè)備或行業(yè)提供易于理解的數(shù)據(jù)。
概述
AxoScan 是行業(yè)**的樣品偏振特性測量系統(tǒng)。憑借其****的速度、精度和準確度,AxoScan 在全球范圍內(nèi)被偏光膜、延遲膜和液晶顯示器制造商以及這些產(chǎn)品的許多*終用戶所采用。
AxoScan 測量 所有可能的偏振特性 (完整的 Mueller 矩陣)并在僅30 毫秒內(nèi)報告樣品的所有關(guān)鍵偏振參數(shù)(偏振器特性、延遲器特性、去偏振特性) 。
測量是在一個位置進行的,通常是在直徑為 1.5 毫米或 3 毫米的光束中。如果需要測量非常小的特征,請考慮使用 AxoStep 成像旋光儀。
“穆勒矩陣”的優(yōu)勢
與僅測量特定偏振參數(shù)子集的“部分”或“不完整”旋光儀不同,AxoScan 和 AxoStep 均測量完整的 Mueller 矩陣。Mueller 矩陣的 16 個元素包含樣品所有可能的偏振特性。這在您的真實樣本不符合測量系統(tǒng)做出的假設(shè)的情況下非常重要。
例如,如果任何層之間沒有完全對齊,則測量堆疊的延遲器層將產(chǎn)生“橢圓延遲”。設(shè)計用于測量“線性延遲”或“雙折射”的系統(tǒng)將無法看到這種未對準的影響,并會給出錯誤的結(jié)果。但是穆勒矩陣是騙不了的,
我們易于使用的軟件會自動將穆勒矩陣轉(zhuǎn)換為有意義的透射率、偏振器特性(衰減和偏振)、延遲和去偏振參數(shù)。Axometrics 還為眾多行業(yè)提供范圍廣泛的專用軟件。
OPMF - 平面外測量夾具
OPMF-1 在世界各地的研發(fā)和 QC 實驗室中使用,是 AxoScan *常用的安裝夾具。OPMF 自動傾斜和旋轉(zhuǎn)樣品以測量作為視場函數(shù)的偏振特性。在多個入射角下進行測量對于許多應(yīng)用來說至關(guān)重要:
- 用于視野 (FOV) 分析的極角和方位角圖
- 行業(yè)標準面外延遲參數(shù)(R0、Rth 和 Beta)
- 透射樣品的相對 3D 折射率橢圓
- 液晶 (LC) 顯示器和薄膜的預(yù)傾斜測量
- 垂直排列 LC 的池間隙測量
OPMF-1傾角(極角)范圍為-55°至+55°,旋轉(zhuǎn)角(方位角)連續(xù)0°至360°
OPMF-2 將*大傾斜角擴展到 75°。這種擴展的傾斜范圍通常在視野研究的研發(fā)應(yīng)用中很有用。
XY200 - 電動XY掃描臺
XY200 夾具自動執(zhí)行*大 200 平方毫米樣品的 XY 圖,并包括用于分析測量偏振特性圖的軟件。隨附的 XYViewer 軟件具有以下功能:
- 統(tǒng)計分析樣本的分布
- 截面圖
- 屏蔽超出范圍的像素
- 數(shù)據(jù)導(dǎo)出到電子表格
- 用于質(zhì)量控制的通過/不通過應(yīng)用程序的分箱顏色表的用戶設(shè)置
VRTF - 傳輸和反射夾具
VRTF-1 可以在傳輸和反射模式之間自動重新配置,從而實現(xiàn)非常廣泛的應(yīng)用。反射的傾角可以從 10° 到 90°,透射的傾角可以從 -55° 到 55°。MSRS 選項提供樣品的完整 360° 旋轉(zhuǎn),可選的 XY50 載物臺允許區(qū)域的 XY 圖*大為 50 mm x 50 mm。
VRTF 是我們*靈活的夾具,可廣泛用于偏光測量和橢圓偏光測量:
- 用于視野 (FOV) 分析的極角和方位角圖
- 行業(yè)標準面外延遲參數(shù)(R0、Rth 和 Beta)
- 透射樣品的相對 3D 折射率橢圓
- 液晶 (LC) 顯示器和薄膜的預(yù)傾斜測量
- 垂直排列 LC 的池間隙測量
- XY 地圖和橫截面線掃描高達 50 毫米的透射或反射
- 折射率測量
- 薄膜厚度測量
- LCOS 和反射式顯示器測試
FSVM - 獨立式垂直安裝
FSVM 是一種簡單的安裝夾具,用于測量垂直入射傳輸中的樣品。該夾具包括一個可調(diào)節(jié)的參考邊緣,用于重復(fù)設(shè)置樣品方向。
OBHM - 光學工作臺水平安裝座
光學工作臺水平安裝架適用于希望將 AxoScan 安裝在光學工作臺上的研究人員。這為許多研發(fā)應(yīng)用提供了*大的靈活性。
隨著新應(yīng)用程序的出現(xiàn),您無需擔心過時。由于 Mueller 矩陣已經(jīng)包含所有可能的偏振特性,因此新應(yīng)用只需為現(xiàn)有測量系統(tǒng)安裝新的分析軟件即可。
如果您的產(chǎn)品依賴于光偏振,我們可能已經(jīng)為您的應(yīng)用提供了分析軟件。聯(lián)系我們了解詳情。
應(yīng)用
由于 Mueller 矩陣包含樣品所有可能的偏振特性,因此 AxoScan 應(yīng)用程序太多無法一一列舉。下面的列表重點介紹了一些*常見的應(yīng)用程序,但請務(wù)必訪問我們的應(yīng)用程序頁面以獲取更多信息。
如果您沒有看到您的應(yīng)用列出,請隨時聯(lián)系我們討論您的測量要求。如果測量涉及極化,我們可能已經(jīng)幫助某人進行了類似的測量。
偏光片特性
準確測量偏光片的偏光軸角和偏光效率(衰減幅度)。確定輸出狀態(tài)是線性、圓形還是介于兩者之間的某種橢圓狀態(tài)。還要判斷輸入輸出狀態(tài)是否相同。在一些應(yīng)用中,延遲膜被層壓到偏振膜上以進行視場補償或用于制造圓偏振器。我們的多層分析軟件可用于確定各個層的屬性。
緩凝劑性能
準確測量減速器快軸角度和減速幅度。還要確定傳播*快的狀態(tài)是線性、圓形(旋光)還是橢圓形。測量延遲作為傾斜角的函數(shù)可以計算面外延遲 (Rth) 和指示線傾斜角 (β),并表征 c 板。
液晶參數(shù)測試
同時測量液晶任意模式的盒隙、上下配向方向、扭轉(zhuǎn)角、上下預(yù)傾角。測量可應(yīng)用于測試電池、商業(yè)面板或聚合薄膜。
廣義橢圓偏光
測量反射樣品可為計算薄膜的折射率和厚度提供必要的數(shù)據(jù)(ψ 和 Δ)。因為 AxoScan 測量整個 Mueller 矩陣,所以測量不限于各向同性薄膜。可以毫無困難地測量單軸和雙軸各向異性薄膜和基材。
應(yīng)力誘導(dǎo)雙折射
AxoScan 可以準確測量低于 0.1 nm 的延遲水平。測量樣品的延遲和快軸方向的 XY 圖揭示了應(yīng)力誘導(dǎo)的雙折射模式。AxoScan 廣泛用于測試注塑塑料光學器件和厚玻璃光學器件以揭示這種現(xiàn)象。
生物樣本
對齊的膠原纖維會產(chǎn)生顯著水平的線性延遲。AxoScan 用于選擇用于制造心臟瓣膜的組織,以確保纖維對齊與瓣膜幾何形狀正確對齊。
反射裝置
VRTF 夾具允許在透射或反射中測試樣品。AxoScan 廣泛用于測試反射器件,例如 LCOS 成像器、半透半反 LCD 面板、膽甾型濾光片和光回收膜。
偏振光線追蹤
Mueller 矩陣的一大優(yōu)勢是它能夠用于偏振光線追蹤模擬。使用復(fù)雜樣本的測量 Mueller 矩陣,可以預(yù)測該樣本將如何改變?nèi)魏屋斎肫駪B(tài)。例如,我們的軟件可以預(yù)測樣品放置在任意兩個線性、橢圓或圓偏振器之間時的樣子。我們的測量數(shù)據(jù)文件可以導(dǎo)入到多個第三方鏡頭設(shè)計、偏振光線追蹤和液晶設(shè)計軟件包中。
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