主營(yíng)產(chǎn)品:
光學(xué)儀器、光學(xué)材料、實(shí)驗(yàn)儀器、手動(dòng)工具、焊接工具、焊接材料、儀器儀表、靜電設(shè)備、靜電輔料、工業(yè)器材、氣動(dòng)元件、電工電氣、測(cè)量工具、計(jì)量設(shè)備、氣動(dòng)工具、電動(dòng)工具、化工設(shè)備、化工輔料、點(diǎn)膠設(shè)備、小型設(shè)備、儲(chǔ)存設(shè)備、物流設(shè)備、工業(yè)安防、**防護(hù)、包裝材料、切削工具、切削材料、辦公設(shè)備、辦公文 具、工裝夾具、測(cè)試治具、機(jī)械加工。設(shè)備等。
- 西南區(qū)廠家直銷 FUNATEC...
- 廠家直銷 MUSASHI武藏 ...
- AITEC艾泰克 Power-...
- 重慶上乘粘度計(jì) TOKISA...
- 西南區(qū)廠家直銷EIWA熔接機(jī)拉...
- 功能齊全 重慶內(nèi)藤銷售 KOB...
- 原裝進(jìn)口 靜電測(cè)量?jī)x FMX-...
- 折疊耐久試驗(yàn)機(jī) DLDMLH...
- SEN日森 UV硬化裝置 臺(tái)式...
- HID光源 HL - LGJ ...
- USHIO牛尾 照明設(shè)備 一般...
- 新品直銷,OPK株式會(huì)社,托盤...
- 現(xiàn)貨直銷 SANEI三榮 BS...
- 現(xiàn)貨直銷 SANEI三榮 SD...
- 西南地區(qū)直銷 MOUNTZ蒙士...
- DLDMLH-4U 折疊耐久...
- 折疊耐久試驗(yàn)機(jī) DLDMLH-...
- 現(xiàn)貨 DIT東日技研 超聲波傳...
- 現(xiàn)貨 DIT東日技研 靜電消除...
- 現(xiàn)貨 DIT東日技研 噴嘴式/...
- 重慶內(nèi)藤供應(yīng)AITEC艾泰克L...
- AITEC艾泰克 氮置換BOX...
- AITEC艾泰克 晶圓UV照射...
- AITEC艾泰克 閃光燈設(shè)定數(shù)...
- AITEC艾泰克 LPDCH系...
- AITEC艾泰克 LMS 10...
- AITEC艾泰克 紅外線照明 ...
- NDK日本電色 濁度/色度儀...
- 日本SIGMAKOKI西格瑪光...
- 日本FLUORO福樂西南代理小...
- 日本CCS希希愛視鹵素光源重慶...
- 日本FLUORO福樂小型真空泵...
- 原裝**圓度·圓柱度形狀測(cè)量機(jī)...
- 日本probe 探頭耐500℃...
- 日本MALCOM馬康代理手持式...
- 日本MUSASHI株式會(huì)社武藏...
- 日本ACCRETECH東京精密...
- 日本MUSASHI武藏?cái)?shù)碼控制...
- 日本SSD西西蒂靜電離子風(fēng)機(jī)西...
- 內(nèi)藤供應(yīng)日本AND艾安德微型 ...
- 重慶內(nèi)藤TND-4500K日本...
- 國(guó)內(nèi)代理日本MALCOM馬康錫...
- 日本FLUORO福樂新品 伯努...
- 優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品ACCRETECH圓度...
- MUSASHI武藏?cái)?shù)碼控制點(diǎn)膠...
- 日本ACCRETECH圓度·圓...
- 日本ACCRETECH東京精密...
- 日本ACCRETECH東京精密...
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹:
OLED用偏光板、疊層相位差膜、IPS液晶相位差膜偏光板等各種薄膜的相位差測(cè)量裝置。
實(shí)現(xiàn)與超高 Re.60000nm 對(duì)應(yīng)的高速、高精度測(cè)量。
可以“不剝離而非破壞性”地測(cè)量薄膜的層壓狀態(tài)。
此外,它配備了易于操作的軟件和校正功能,可以響應(yīng)由于重新定位樣品而導(dǎo)致的未對(duì)準(zhǔn),從而實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單和高精度的測(cè)量。
銷售中心-重慶內(nèi)藤naitokikai
詳情介紹:
產(chǎn)品信息
特征
只有獨(dú)特的光譜儀才能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量
■ 高精度
通過多波長(zhǎng)測(cè)量實(shí)現(xiàn)高精度
<高精度的原因> ?使用原始的
高性能多通道光譜儀 信息約500個(gè)波長(zhǎng),是其他公司產(chǎn)品的約50倍)
■ 測(cè)量范圍廣(延遲范圍:0~60000nm)
■ 可以理解延遲波長(zhǎng)色散形狀
超高延遲測(cè)量 -超雙折射薄膜的高速、高精度測(cè)量-
■ 高延遲
多層測(cè)量 -各種薄膜層壓條件無剝離的無損測(cè)量-
軸角校正功能 -即使樣品未對(duì)準(zhǔn),您也可以輕松測(cè)量并具有良好的再現(xiàn)性-
■ 重新定位樣品 10 次并比較有無角度校正的結(jié)果
[樣品:延遲膜 R85]
簡(jiǎn)單的軟件-測(cè)量時(shí)間和處理時(shí)間大大減少。大大提高了可操作性
規(guī)格
規(guī)格
模型 | 延遲測(cè)量裝置 RETS-100nx |
測(cè)量項(xiàng)目(薄膜、光學(xué)材料) | 延遲(波長(zhǎng)色散)、慢軸、Rth *1、3D 折射率*1等。 |
測(cè)量項(xiàng)目(偏光板) | 吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率等。 |
測(cè)量項(xiàng)目(液晶盒) | Cell gap、pretilt angle *1、twist angle、orientation angle等 |
延遲測(cè)量范圍 | 0 至 60,000 納米 |
延遲重復(fù)性 | 3σ≤0.08nm(石英波片約600nm) |
電池間隙測(cè)量范圍 | 0~600μm(Δn=0.1時(shí)) |
細(xì)胞間隙重復(fù)性 | 3σ≦0.005μm(當(dāng)cell gap為3μm左右,Δn=0.1時(shí)) |
軸檢測(cè)重復(fù)性 | 3σ≤0.08°(石英波片約600nm) |
測(cè)量波長(zhǎng)范圍 | 400 ~ 800nm(其他選擇可能) |
探測(cè)器 | 多通道光譜儀 |
測(cè)量直徑 | φ2mm(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格) |
光源 | 100W鹵素?zé)?/span> |
數(shù)據(jù)處理部分 | 個(gè)人電腦、顯示器 |
舞臺(tái)尺寸:標(biāo)準(zhǔn) | 100mm × 100mm(固定載物臺(tái)) |
選項(xiàng) |
?超高延遲測(cè)量 ?多層測(cè)量 ?軸角校正功能 ?自動(dòng)XY平臺(tái) ?自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)平臺(tái) |
*1 需要自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)臺(tái)(可選)