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主營產(chǎn)品:

光學(xué)儀器、光學(xué)材料、實(shí)驗(yàn)儀器、手動工具、焊接工具、焊接材料、儀器儀表、靜電設(shè)備、靜電輔料、工業(yè)器材、氣動元件、電工電氣、測量工具、計(jì)量設(shè)備、氣動工具、電動工具、化工設(shè)備、化工輔料、點(diǎn)膠設(shè)備、小型設(shè)備、儲存設(shè)備、物流設(shè)備、工業(yè)安防、**防護(hù)、包裝材料、切削工具、切削材料、辦公設(shè)備、辦公文具、工裝夾具、測試治具、機(jī)械加工。設(shè)備等。

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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚電子zeta電位粒徑分子量分析
產(chǎn)品型號：ELSZ-2000系列
產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

除了現(xiàn)有的zeta電位和粒徑測量外，還新增了分子量分析功能。（粒徑：0.6nm-10um/濃度范圍：0.00001%-40%）。電滲透測量可使用微量 (130ul) 一次性電池對 zeta 電位進(jìn)行高精度分析。此外，新的自動溫度梯度功能具有 0 至 90℃ 的擴(kuò)展范圍，使熔點(diǎn)和相變點(diǎn)分析成為可能。

詳情介紹：

特征

新的 APD 具有更高的靈敏度和更短的測量時間。
通過自動溫度梯度功能實(shí)現(xiàn)熔點(diǎn)和相變點(diǎn)分析。
0~90℃寬溫度范圍。
寬范圍分子量分析。
支持濃縮樣品測量。
得益于電滲透測量和繪圖分析，高精度 zeta 電位分析。
支持鹽濃縮樣品的zeta電位測量。
較小面積樣品的表面 zeta 電位。

測量項(xiàng)目

Zeta 電位	無有效限制
機(jī)動性	-20×10 ^-4～ 20×10 ^-4 cm ² /V·s
粒徑	0.6納米～10000納米
分子量	360 ～ 2000×10 ⁴

●測量范圍

溫度	0～90℃
專注	粒徑： 0.00001 % （0.1ppm）～ 40 % *1 Zeta 電位： 0.001%～40%

*1（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、?；悄懰幔?～ 40%）

應(yīng)用

*適用于表面化學(xué)、無機(jī)、半導(dǎo)體、聚合物、生物技術(shù)、制藥和醫(yī)療等領(lǐng)域的粒子表征基礎(chǔ)和應(yīng)用研究，以及薄膜和平面狀態(tài)樣品的表面研究。

新功能材料
燃料電池（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
生物納米技術(shù)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS）、納米氣泡
陶瓷與涂料
陶瓷（二氧化硅、氧化鋁、二氧化鈦^）無機(jī)
溶膠的表面改性劑、分散與凝聚
炭黑與有機(jī)顏料的分散與凝聚漿
態(tài)樣品
濾色片
浮選吸附研究

Semiconductor
Alien objects research on silicon wafer
磨料/添加劑對硅片表面
CMP漿料的相互作用研究
聚合物與化工
乳液分散與凝聚
乳膠表面改性劑聚電解質(zhì)
功能研究
造紙過程控制與紙漿助劑研究
制藥和食品
乳液分散和凝聚
脂質(zhì)體和囊泡的分散/凝聚控制表面活性
劑（膠束）的功能

規(guī)格

原則	粒徑	動態(tài)光散射法
	Zeta 電位	激光多普勒法
	分子量	靜態(tài)光散射法
光學(xué)	粒徑	零差系統(tǒng)
	Zeta 電位	外差系統(tǒng)
	分子量	零差系統(tǒng)
光源	高功率半導(dǎo)體激光器
探測器	高靈敏度 APD
細(xì)胞	Zeta 電位：標(biāo)準(zhǔn)池、微量一次性池、高濃度。細(xì)胞
	粒徑/分子量 : 矩形池
溫度	0 ～ 90℃ （帶梯度功能）
電源要求	100V±10% 250VA
尺碼(WDH）	380（W)×600（D)×210（H)mm
重量	約 22公斤

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產(chǎn)品名稱：OTSUKA大塚電子zeta電位粒徑分子量分析

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